Разрешение, полученное во вторичных электронах: | 4 нм при 20 кВ (Высокий вакуум) |
15 нм при 1 кВ (Высокий вакуум) | |
В обратно-рассеяных электронах: | 5 нм при 20 кВ (Низкий вакуум) |
Электронная оптика: | Ускоряющее напряжение 0,3 – 20 кВ |
Увеличение приборное 6х – 300 000х | |
На экране монитора 16х – 800 000х | |
Столик для камеры образцов | X: 0 – 40 мм; Y: 0 – 50 мм; Z: 5 – 15 мм; Вращение: 360°; Наклон: от -15° до +90° |
Максимальный размер образца | Диаметр: 80 мм; Высота: 40 мм |
Сканирующий электронный микроскоп flexSEM 1000 Hitachi HT
Новейшая модель компактного, высокоэффективного и простого в эксплуатации сканирующего электронного микроскопа FlexSEM 1000
Микроскоп оснащен детекторами SE и BSE, работает в режиме VP-SEM. Возможна установка UVD детектора, системы EDX и ИК-камеры.
Компактные размеры микроскопа (450 мм (ширина) х 640 мм (глубина) х 1120 мм (высота)) позволяют установить его практически в любое лабораторное помещение или даже в офис. Для работы прибора требуется лишь одна стандартная розетка.
Все рабочие функции микроскопа максимально автоматизированы.
В FlexSEM 1000 впервые используется новейшая навигационная функция SEM MAP, позволяющая, с использованием встроенной камеры, получать изображения образца от камеры и микроскопа в одно нажатие мыши.